Тепер FWHM визначається формулою. Щось подібне до цього називається формулою зсуву. Отже, тут бета – це ваша повна ширина на половині максимуму.

FWHM = √(b²/2 − 2ac) / |a|.

Рентгенівська дифракція (XRD) є потужним методом, який зазвичай використовується для визначення кристалічної структури матеріалів. Аналізуючи дифрактограму, отриману за даними XRD, можна визначити тип решітки та параметри решітки кристалічної структури.

Розмір кристалітів становить обернено пропорційний до fwhm (формула Шеррера), отже, чим менша fwhm (означає гостріший пік), більший розмір кристаліту.

… Параметр FWHM (повна ширина на половині максимуму) чутливий до зміни мікроструктури матеріалу та накопичення напруги та деформації. Тому цей параметр дозволяє отримати інформацію про деформацію зерна та твердість виливка [15, 16].